Nano Indenter G200X可提供納米級(jí)的力學(xué)測(cè)試功能,簡(jiǎn)單易用,能夠精確進(jìn)行各種力學(xué)定量分析。G200X系統(tǒng)中配置了高精度納米馬達(dá)樣品臺(tái)、最大的樣品安裝系統(tǒng)和高分辨率光學(xué)顯微鏡。InView軟件、InQuest控制器和InForce驅(qū)動(dòng)器讓KLA全線壓痕產(chǎn)品系列具有一致的卓越性能。 G200X系統(tǒng)可選功能包括連續(xù)剛度測(cè)量(CSM)、掃描探針顯微成像、劃痕測(cè)試、動(dòng)態(tài)力學(xué)分析頻率掃描,、IV電壓電流特性測(cè)試、超高速壓痕測(cè)試和沖擊測(cè)試等等。
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